4.2几何量

应该按照表2中的要求测定示出的几何量。
4.3宽射束条件下的测量
4.3.1在宽射束条件下，应该按照图1的要求进行测量。
4.3.2在测量期间，空气比释动能率应不大于空气比释动能率的5%，即≤0.05×。

4.3.3在测量期间，空气比释动能率应不大于空气比释动能率的1%，即

5.1
衰减当量测
5.3
铅当量测
5.4
非均匀性V5.5
c是对测量点离辐射源的距离(见图2)偏差的修正因子。按照下式测定c:

a是图2所示的窄射束中心从检验物的远侧平面到辐射探测器参考点的距离。a应不小于截面A平方根的10倍;
b是图1所示的宽射束中心从检验物的远侧平面到辐射探测器参考点的距离，
A是图2所示的检验物远侧平面处窄射束的截面，
W是辐射探测器的参考点与任何相邻物或墙壁之间的距离(见图1和图2)。

图1宽射束测量条件示意图(单位:mm)
4.4窄束条件下的测量
4.4.1在窄射束条件下，应该按照图2的要求进行测量。
4.4.2在检验物的远侧，辐射束的直径应该为20mm±1mm。
4.4.3根据第6.5.1条测定均匀度时，在检验物远侧应该将窄射束限制到直径不大于10mm。
4.5辐射探测器的位置
距离W应不小于700mm。
4.5.1测定衰减比时，应测量有和没有检验物条件下的空气比释动能率和。从检验物远侧平面到辐射探测器参考点的距离b应为50mm±1mm(见图1)。
4.5.2在空气比释动能率的测量中，对于累积因子的测量，从检验物的远侧到辐射探测器参考点的距离应不小于截面A平方根的10倍。
4.6检验仪器
4.6.1检验仪器的辐射探测器，在半球面上对射线入射方向的响应依赖性很小，应忽略不计。
4.6.2辐射探测器测量管电压为40kV-400kV的X射线时，探测器对射线能量的响应依赖性必须不超过±20%。
4.6.3辐射探测器灵敏体积的直径和长度均应不超过50mm。

图2窄射束测量条件示意图(单位:mm)
4.6.4X射线高压发生装置应满足实验管电压的要求，其实验管电压的实际值不得低于规定实验管电压的90%。
4.6.5标准铅片的化学纯度应为99.99%，厚度精度为±0.01mm
4.6.6过滤条件
用于管电压在120kV(包括120kV)以下的X射线防护材料，其实验管电压为80～120kV，总过滤为2.5mmAl用于管电压在120kV以上的X射线防护材料，按最常用的管电压进行，其总过滤按表3的规定。
表3标准化线质

X线管电压kV*
总过滤mmCu
*百分波纹率不超过4%;**可用2.5mmAl代替
4.7检验物
4.7.1在宽射束测量条件下，检验物必须是受检材料板，其尺寸至少为500mm×500mm。
4.7.2在窄射束测量条件下，检验物必须是受检材料板，其尺寸至少为100mm×100mm。
4.7.3用于测定衰减率时，各种厚度的检验物可以通过几层相同厚度或不同厚度的材料叠加而获得。
4.8线质
应该根据表3中给出的一种或多种线质来测定衰减性能。
5衰减性能的测定
在所有测量期间，必须监测辐射束空气比释动能率的恒定性。如果空气比释动能率的涨落超过平均值的5%，则必须对测量结果进行修正。
5.1衰减比

5.1.1必须按照下述公式测定衰减比F:

5.1.2应该用数值表示衰减比，并用X射线管电压和总过滤表示线质(见第6章)。

5.2累积因子
5.2.1应该按照下述公式测定累积因子B